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    新產(chǎn)品網(wǎng)絡研討會|飛納臺式掃描電鏡 Phenom XL G2

     更新時間:2020-05-25 點擊量:2149

    如今,許多行業(yè)正在通過多功能臺式掃描電子顯微鏡(SEM )自動化其質(zhì)量控制流程。通過流程自動化,用戶可以避免耗時的任務并減少人為失誤的風險,從而確保優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品到達客戶手中。

     

    重復的工作流程會拖延您的時間嗎?數(shù)據(jù)收集和分析是否繁瑣耗時?借助飛納臺式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL G2,您可以快速獲得所需的準確信息,減少故障,避免延誤,保持生產(chǎn)過程順利進行。

     

     

    在網(wǎng)絡研討會中,我們展示了如何使用新一代自動化掃描電鏡來改善質(zhì)量控制過程。

     

     立即觀看網(wǎng)絡研討會 

     

    通過網(wǎng)絡研討會,您將學習如何:

    · 獲得所需的質(zhì)量信息,提早發(fā)現(xiàn)故障,迅速調(diào)整生產(chǎn)過程。
    · 通過飛納全自動臺式掃描電鏡(SEM),使質(zhì)量控制自動化,提高生產(chǎn)效率,減少人為失誤。
    · 全新的易于學習的界面可以幫助您快速掌握新信息,是各種應用的理想選擇。

    傳真:

    郵箱:info@phenom-china.com

    地址:上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5,705 室

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