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    復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
           
    
    
    
   

    
  
    
    
    
      
    
      
    
      
    
      
    
      
    
      
    
    
    
    
    
  
    

    
 


    

 



    
  
     
    
    
    
        	 
    
        	     	
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    利用掃描電鏡全面了解樣品
    
           
    
  　發(fā)布時(shí)間：2017/11/13　點(diǎn)擊量：1600
         
    
          
    
          
      
          	
    • 提 供 商：
      復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司
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    • 圖片類型：
      資料類型：
      PDF
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    詳細(xì)介紹：
    
          
    
          
    樣品名稱
    鉛電池極片框架
     
    樣品類型
    金屬，固體
     
    是否噴金
    未噴金
     
    設(shè)備型號(hào)
    飛納臺(tái)式掃描電鏡 Phenom Pure+
     
    測(cè)試項(xiàng)目
    • 掃描電鏡：
         背散射探頭模式
         Topo 模式
         3D 粗糙度重建
         二次電子探頭
    • 能譜：
         EDS mapping
     
    測(cè)試目的
    表面鍍層質(zhì)量觀察
     
    
          
    
          
          
 
          
    
        
    


         
    
       
        
    
  
    

    

    

    
    
    
        
        
    
            
    
                
    傳真：
    
                
    郵箱：info@phenom-china.com 
    
                
    地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號(hào)上海虹橋麗寶廣場(chǎng) T5，705 室
    
                
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