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    你的掃描電鏡樣品有一個(gè)秘密

     發(fā)布時(shí)間:2017/5/27 點(diǎn)擊量:2015
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    詳細(xì)介紹:

    某些樣品很難成像。有時(shí)即使前期使用的制樣方法,也不能幫助你得到想要的結(jié)果。樣品表面粗糙度和表面特征可能會(huì)將你感興趣的特定區(qū)域覆蓋,這些區(qū)域可能包含材料的表面缺陷或特征等重要信息。正如這個(gè)案例一樣,你需要從一個(gè)新的角度解析。例如在電腦芯片上進(jìn)行故障分析時(shí),一根導(dǎo)線或者其他物體可能會(huì)將導(dǎo)致故障的錯(cuò)誤連接覆蓋住。或是統(tǒng)計(jì)特殊設(shè)計(jì)的合金顆粒,這些顆粒能提高發(fā)動(dòng)機(jī)部件或微型醫(yī)療工具的性能,由于表面粗糙結(jié)構(gòu)能將部分顆粒隱藏,使得統(tǒng)計(jì)結(jié)果不準(zhǔn)確。

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